WaferMap晶圆生成对比
案例介绍
WaferMap晶圆生成对比
案例介绍
本人作为项目独立开发负责人，全程主导晶圆 Wafer Map 可视化分析工具的需求调研、技术选型、编码开发与版本交付工作。基于 Python3.10、PyQt5、Matplotlib 技术栈开发桌面端工具，解决 Minitab、Origin 商用软件无法满足的定制化可视化痛点，支持 Excel 批量导入晶圆 X/Y 坐标与厚度测试数据，按照实际尺寸绘制晶圆分布图；可自定义色阶、全局 / 单图数据阈值、晶圆平边方向，灵活控制坐标点、数值标签展示及小数位数，通过边缘羽化平滑渲染优化可视化效果。同时实现多线程运算、数据缓存、多图对比、批量导出等性能优化功能，两阶段开发均按期交付，满足芯片部门交互式、批量化的测试数据分析需求。
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