基于 Qt C++ 开发晶圆 WaferMap 可视化组件,支持晶圆晶粒布局渲染、十字中心对准,可加载 bin 文件绘制良率色块。优化图形绘制性能,大数据量晶圆阵列下界面流畅不卡顿。配套文件解析功能,可对接探针台测试流程,实现晶粒点位管理、Map 图查看,可集成到半导体测试上位机软件,用于晶圆测试结果可视化展示。
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