OneTest
案例介绍
Session控制仪器对DUT进行测试，OneTest既可以覆盖实验室环境下的芯片的产前
设计测试，也可以支持芯片FT阶段的封装测试，同时支持应用工程师在测试软件上进行测试程序的编写和执行，很大程度上可以解放芯片测试工程师的双手，提升
了芯片研发的自动化程度。
业绩：
1.采用WPF技术，MVVM的框架，完成了OneTest的界面设计和前端框架的设计。
2.使用设计模式中的组合模式，采用流程控制节点（条件节点，循环节点，扫描循
环节点）和内容执行节点，完成后端Testflow执行流程（用户测试程序的编排）的设计
与实现。（类似一个树形数据结构的叶子结点的执行遍历，包含辅助功能比如断点
调试，剪头指向，节点拖携等功能）。
3.采用前后分离的技术（WPF的前端进程和.netframework实现的后端进程）和grpC
协议，完成grpc接口的设计管理和实现。
4.内存泄露问题的分析解决。
5.采用DDD的思想，完成OneTest彻底重构，提升了代码质量。
OneTest
案例介绍
OneTest项目是公司最核心的产品，使用场景为内嵌在测试机上，通过各种仪器的
Session控制仪器对DUT进行测试，OneTest既可以覆盖实验室环境下的芯片的产前
设计测试，也可以支持芯片FT阶段的封装测试，同时支持应用工程师在测试软件上进行测试程序的编写和执行，很大程度上可以解放芯片测试工程师的双手，提升
了芯片研发的自动化程度。
业绩：
1.采用WPF技术，MVVM的框架，完成了OneTest的界面设计和前端框架的设计。
2.使用设计模式中的组合模式，采用流程控制节点（条件节点，循环节点，扫描循
环节点）和内容执行节点，完成后端Testflow执行流程（用户测试程序的编排）的设计
与实现。（类似一个树形数据结构的叶子结点的执行遍历，包含辅助功能比如断点
调试，剪头指向，节点拖携等功能）。
3.采用前后分离的技术（WPF的前端进程和.netframework实现的后端进程）和grpC
协议，完成grpc接口的设计管理和实现。
4.内存泄露问题的分析解决。
5.采用DDD的思想，完成OneTest彻底重构，提升了代码质量。
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