WAFER AOI缺陷检测
案例介绍
系统对接产线 AOI 设备采集的高分辨率晶圆图像，通过深度学习模型对划痕、崩边、污染、异物、电极异常等缺陷进行自动识别与分类，辅助人工复检环节，降低漏检率和误判率。
我在项目中负责图像预处理流程设计、缺陷样本数据增强、检测模型训练与调优、模型轻量化部署，以及与厂内 MES / 质检系统的数据对接。系统支持缺陷位置标注、置信度输出、复检结果报表导出，帮助封测厂实现从“全人工目检”到“AI 辅助复检”的升级。
应用后，单批次晶圆复检效率提升 3 倍以上，关键缺陷漏检率下降超过 70%，复检人员工作强度明显降低。
关键词：WAFER AOI、晶圆缺陷检测、封测厂缺陷复检、半导体机器视觉、工业视觉检测。
WAFER AOI缺陷检测
案例介绍
WAFER AOI 缺陷复检系统，面向半导体封测厂晶圆外观检测场景。
系统对接产线 AOI 设备采集的高分辨率晶圆图像，通过深度学习模型对划痕、崩边、污染、异物、电极异常等缺陷进行自动识别与分类，辅助人工复检环节，降低漏检率和误判率。
我在项目中负责图像预处理流程设计、缺陷样本数据增强、检测模型训练与调优、模型轻量化部署，以及与厂内 MES / 质检系统的数据对接。系统支持缺陷位置标注、置信度输出、复检结果报表导出，帮助封测厂实现从“全人工目检”到“AI 辅助复检”的升级。
应用后，单批次晶圆复检效率提升 3 倍以上，关键缺陷漏检率下降超过 70%，复检人员工作强度明显降低。
关键词：WAFER AOI、晶圆缺陷检测、封测厂缺陷复检、半导体机器视觉、工业视觉检测。
案例图片
相似案例推荐
-
AI 浏览器综合平台
AI 浏览器综合平台 —— 项目介绍 AI 综合平台 是一
-
多源数据自动汇总报表系统
为企业运营数据自动汇总需求开发：定时从 MySQL、Exce
-
企业AI知识库智能问答系统
基于大语言模型开发的企业知识库智能问答系统，支持 PDF、W
-
新能源汽车测试数据分析平台
个人独立开发的新能源汽车测试数据分析平台，面向研发及测试场景
-
CRM销售经营驾驶舱
面向中小企业销售与经营管理场景搭建的CRM及销售经营驾驶舱，
-
企业AI机会诊断系统
面向中小企业管理者设计的AI机会诊断应用，通过结构化问卷采集
1小时精推人才
需求方专属客服，免费梳理匹配
