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AOI智能检测平台

AOI（自动光学检测）智能芯片检测平台是一套面向半导体制造业的高精度、自动化质量检测系统。该平台通过集成图像识别算法与可视化流程引擎，实现对芯片外观缺陷（如划痕、污渍、引脚变形等）的快速识别、分类与判定，大幅提升质检效率与一致性，降低人工误判率 平台核心功能包括： 可视化检测流程配置 支持拖拽式流程设计器，允许工艺工程师灵活配置检测环节、算法参数与判定规则。 实时图像处理与缺陷识别 集成多类AI检测模型，支持实时图像采集、预处理、特征提取与缺陷分类，并标注异常位置与置信度。 检测任务调度与监控 提供任务队列管理、优先级调度、设备状态看板及实时检测进度追踪，...