本项目针对功率半导体 IGBT 器件的长期可靠性老化测试需求开发，适配多通道可编程功率电源、高低温温控箱、高速数据采集卡，实现 IGBT 老化过程中电压、电流、壳温等参数的实时监控、安全保护逻辑控制、全周期老化数据记录与分析功能。我独立负责客户需求对接、技术方案设计、代码开发、多设备联调与最终验收交付。技术上采用 C# .NET Framework 开发，抽象封装多品牌设备的通用通讯接口，便于后续设备扩展兼容；通过 Modbus RTU/TCP、OPC UA 协议实现多设备同步采集与控制，设计单站隔离轮询架构，单台设备故障不影响整体测试流程；使用 MySQL 实现海量时序数据的分表存储，支持最长 1000 小时的连续不间断测试，配套分级报警、硬件急停双重保护逻辑，保障测试过程的安全性；软件自带分级运行日志系统，便于异常排查与问题定位。系统最终支持最多 32 通道 IGBT 同步老化测试，数据采集频率最高 100Hz，满足汽车级 IGBT 器件的老化测试标准，已交付多家功率半导体厂商使用，获得客户长期复购与定制化需求合作