黄昏画意的案例列表

IGBT/SiC无功功率可靠性测试系统

企业服务-行业细分软件 黄昏画意

本项目针对功率半导体 IGBT 器件的长期可靠性老化测试需求开发,适配多通道可编程功率电源、高低温温控箱、高速数据采集卡,实现 IGBT 老化过程中电压、电流、壳温等参数的实时监控、安全保护逻辑控制、全周期老化数据记录与分析功能。我独立负责客户需求对接、技术方案设计、代码开发、多设备联调与最终验收交付。技术上采用 C# .NET Framework 开发,抽象封装多品牌设备的通用通讯接口,便于后续设备扩展兼容;通过 Modbus RTU/TCP、OPC UA 协议实现多设备同步采集与控制,设计单站隔离轮询架构,单台设备故障不影响整体测试流程;使用 MySQL 实现海量时序数据的分表存储,支持最...

IGBT/SiC无功功率可靠性测试系统
IGBT/SiC无功功率可靠性测试系统
IGBT/SiC无功功率可靠性测试系统

SiC 激光测厚系统上位机软件

企业服务-行业细分软件 黄昏画意

本项目是针对半导体 SiC 晶圆量产环节的非接触式高精度测厚需求开发的工业级上位机系统,适配高精度激光位移传感器、多轴运动控制卡,实现晶圆多点位厚度自动检测、数据统计分析、合格判定与标准化报表导出全流程自动化。我独立负责软件整体架构设计、全流程代码开发、多设备联调与现场交付验收。技术上采用 C# WinForm 分层架构开发,通过 Modbus TCP / 串口通讯实现传感器、运动控制卡的实时数据采集与运动逻辑控制,基于多线程异步采集架构避免 UI 卡顿,保障检测流程的实时性;使用 SQLite 实现检测数据的高速存储与快速查询,配套完整的 SPC 统计分析功能,可实现厚度数据的 CPK 计算...

SiC 激光测厚系统上位机软件
SiC 激光测厚系统上位机软件
SiC 激光测厚系统上位机软件
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