本项目是针对半导体 SiC 晶圆量产环节的非接触式高精度测厚需求开发的工业级上位机系统,适配高精度激光位移传感器、多轴运动控制卡,实现晶圆多点位厚度自动检测、数据统计分析、合格判定与标准化报表导出全流程自动化。我独立负责软件整体架构设计、全流程代码开发、多设备联调与现场交付验收。技术上采用 C# WinForm 分层架构开发,通过 Modbus TCP / 串口通讯实现传感器、运动控制卡的实时数据采集与运动逻辑控制,基于多线程异步采集架构避免 UI 卡顿,保障检测流程的实时性;使用 SQLite 实现检测数据的高速存储与快速查询,配套完整的 SPC 统计分析功能,可实现厚度数据的 CPK 计算、趋势图分析与异常预警。系统最终实现 ±0.1μm 的检测精度,单晶圆全点位检测周期≤10s,已稳定应用于客户量产产线超 12 个月无重大故障,替代了进口同类软件,为客户降低 60% 的软件采购成本。