该工业视觉检测系统基于C#与Halcon/OpenCV框架开发，具备图像预处理、缺陷检测、尺寸测量及定位引导四大核心模块。我作为独立开发者，负责算法设计、代码实现与系统优化全流程，通过自适应阈值分割与形态学处理提升图像特征提取精度，利用亚像素边缘检测算法实现0.01mm级尺寸测量，检测效率较传统方案提升40%，误判率控制在0.1%以下，已成功应用于电子元件、精密五金等行业产线。
在视觉软件二次开发项目中，我基于LabVIEW/VisionPro平台为客户定制功能模块，集成YOLOv5与ResNet深度学习模型，解决传统算法难以识别的复杂表面缺陷（如划痕、凹坑）。通过多线程并行处理与GPU硬件加速，将单帧图像处理时间从150ms压缩至100ms以内，满足300件/分钟的高速产线实时检测需求，同时提供可视化参数配置界面，降低客户操作门槛。