AOI外观检测软件
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案例介绍
AOI主要是做芯片的外观检测系统， 设备运动到目标位置后运用4道光采集不同的4张图像，根据芯片的种类分别用4道光进行缺陷检测，运用halcon完成LED芯片的定位，定位后对芯片各个位置进行缺陷检测（缺陷包括缺角、多角、切割不良；电极完整性、污染；表面污染、刮伤；针痕偏大、偏小，针偏；电极线断，发光线断），检测完成后移动到下一个视场直到芯片检测完成，完成后自动合档，合档完成后输出数据给下一道工序使用。
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AOI主要是做芯片的外观检测系统， 设备运动到目标位置后运用4道光采集不同的4张图像，根据芯片的种类分别用4道光进行缺陷检测，运用halcon完成LED芯片的定位，定位后对芯片各个位置进行缺陷检测（缺陷包括缺角、多角、切割不良；电极完整性、污染；表面污染、刮伤；针痕偏大、偏小，针偏；电极线断，发光线断），检测完成后移动到下一个视场直到芯片检测完成，完成后自动合档，合档完成后输出数据给下一道工序使用。
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