ID:392591

杨雷明

软件开发

  • 公司信息:
  • 北京怀美科技
  • 工作经验:
  • 8年
  • 兼职日薪:
  • 500元/8小时
  • 兼职时间:
  • 周六
  • 周日
  • 可工作日远程
  • 所在区域:
  • 北京
  • 昌平

技术能力

电子信息本科毕业后,我积累了10年相关工作经验,专注于汽车电子设计、自动化检测系统和高速板卡设计领域。在汽车电子设计中,我主导了多个电子控制单元(ECU)的硬件开发、电路设计与仿真,确保产品符合功能和性能要求 。同时,我负责自动化检测系统的开发,设计测试架构、编写自动化测试脚本,提升测试覆盖率 。在高速板卡设计方面,我专注于高速信号完整性分析和硬件布局优化,确保系统的稳定性和可靠性。我精通嵌入式开发、FPGA开发和高速硬件设计,具备丰富的项目管理经验。

项目经验

1.模拟类芯片自动测试系统:负责系统架构设计与优化。通过引入高精度同步测试技术,显著提升了测试效率。同时,优化了测试算法,采用串行并行联合优化方法,有效降低了测试过程中的热代价。此外,系统支持多工位并行测试,兼容多种仪器设备,适用于研发、生产等全生命周期的测试需求。

2.高速数字类芯片自动测试系统,重点开展了多种环境检测。通过集成温湿度控制模块,确保测试环境温度波动在±1°C以内,湿度维持在40%-60% 。同时,系统具备电磁干扰屏蔽功能,保障测试数据准确性 。此外,采用高低温智能测试技术,可在-45°C至85°C的极端温度下精准评估芯片性能 。

3.DDR类芯片检测系统项目:负责FPGA开发工作。通过配置FPGA的MIG核,实现了对DDR存储器的高效读写控制 。开发了状态机代码,优化读写流程,确保数据传输的准确性和稳定性 。此外,还设计了多通道读写仲裁模块,提升系统资源利用率和处理效率

案例展示

  • 模拟类芯片自动测试系统项目

    模拟类芯片自动测试系统项目

    负责系统架构设计与优化。通过引入高精度同步测试技术,实现了ns级的测试精度,显著提升了测试效率 。同时,优化了测试算法,采用串行并行联合优化方法,有效降低了测试过程中的热代价 。此外,系统支持多工位并行测试,兼容多种仪器设备,适用于研发、生产等全生命周期的测试需求 。

  • 高速数字类芯片自动化检测系统

    高速数字类芯片自动化检测系统

    负责基于FPGA的硬件平台设计与测试流程优化。通过并行处理架构设计,提升多核处理器的并行处理能力,减少测试时间 。同时,开发自动化测试程序,实现功能及特征参数的快速检测 万方数据知识服务平台 。

  • DDR芯片检测系统项目

    DDR芯片检测系统项目

    DDR芯片检测系统项目中,负责FPGA开发工作。通过配置FPGA的MIG核,实现了对DDR存储器的高效读写控制 。开发了状态机代码,优化读写流程,确保数据传输的准确性和稳定性 。此外,还设计了多通道读写仲裁模块,提升系统资源利用率和处理效率

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