模拟类芯片自动测试系统项目
案例介绍
负责系统架构设计与优化。通过引入高精度同步测试技术，实现了ns级的测试精度，显著提升了测试效率 。同时，优化了测试算法，采用串行并行联合优化方法，有效降低了测试过程中的热代价 。此外，系统支持多工位并行测试，兼容多种仪器设备，适用于研发、生产等全生命周期的测试需求 。
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