杨雷明的案例列表

作者:杨雷明 · 共 3 个案例

模拟类芯片自动测试系统项目

负责系统架构设计与优化。通过引入高精度同步测试技术,实现了ns级的测试精度,显著提升了测试效率 。同时,优化了测试算法,采用串行并行联合优化方法,有效降低了测试过程中的热代价 。此外,系统支持多工位并行测试,兼容多种仪器设备,适用于研发、生产等全生命周期的测试需求 。

高速数字类芯片自动化检测系统

负责基于FPGA的硬件平台设计与测试流程优化。通过并行处理架构设计,提升多核处理器的并行处理能力,减少测试时间 。同时,开发自动化测试程序,实现功能及特征参数的快速检测 万方数据知识服务平台 。

DDR芯片检测系统项目

DDR芯片检测系统项目中,负责FPGA开发工作。通过配置FPGA的MIG核,实现了对DDR存储器的高效读写控制 。开发了状态机代码,优化读写流程,确保数据传输的准确性和稳定性 。此外,还设计了多通道读写仲裁模块,提升系统资源利用率和处理效率

案例判断参考

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负责系统架构设计与优化。通过引入高精度同步测试技术,实现了ns级的测试精度,显著提升了测试效率 。同时,优化了测试算法,采用串行并行联合优化方法,有效降低了测试过程中的热代价 。此外,系统支持多工位并行测试,兼容多种仪器设备,适用于研发、生产等全生命周期的测试需求 。...

高速数字类芯片自动化检测系统

负责基于FPGA的硬件平台设计与测试流程优化。通过并行处理架构设计,提升多核处理器的并行处理能力,减少测试时间 。同时,开发自动化测试程序,实现功能及特征参数的快速检测 万方数据知识服务平台 。...

DDR芯片检测系统项目

DDR芯片检测系统项目中,负责FPGA开发工作。通过配置FPGA的MIG核,实现了对DDR存储器的高效读写控制 。开发了状态机代码,优化读写流程,确保数据传输的准确性和稳定性 。此外,还设计了多通道读写仲裁模块,提升系统资源利用率和处理效率...

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