自主研发一套通用机器视觉开发框架,同时兼容传统视觉算法与 AI 感知方案,适配多相机、多工位、多工艺流程并行作业场景。框架可无缝对接 PLC、运动控制器、IO 模块、工业机器人及各类传感器,实现设备间稳定联动;内置算法插拔式设计,能快速替换、迭代检测逻辑,大幅缩短新项目开发周期。
自主研发通用机器视觉开发框架,落地微型芯片 AI 缺陷检测完整解决方案。整体流程覆盖图像数据采集、数据集划分、标注、模型训练与部署推理,选用 YOLOV8n 轻量化目标检测模型完成芯片缺陷识别;配套可视化缺陷检测上位机软件,集成图像采集窗口、模型训练模块、实时推理与目标定位功能,
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